Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Celem zajęć jest nabycie przez studenta umiejętności w zakresie twórczego rozwiązywania problemów praktycznych i stosowania współczesnych metod projektowania, oraz analizy i tworzenia urządzeń elektronicznych, a także prezentacji rozwiązywanych problemów.

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł obejmuje samodzielne zaprojektowanie i wykonanie prostego układu elektronicznego, z uwzględnieniem montażu, obudowy i pomiarów działania

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura do samodzielnego studiowania

1	P. Horowitz, W. Hill	Sztuka elektroniki. Cz. 1-2	WKŁ.	2003
2		Podręczniki zalecane w ramach przedmiotów "Analogowe Układy Elektroniczne", "Technika Cyfrowa" oraz	.
3		Dokumentacja symulatorów układów elektronicznych (Multisim, PSpice)	.
4	Lyons R. G.	Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów	WKiŁ, Warszawa.	1999
5	Mazda F.F.	Electronic instruments and measurement techniques	Cambrige University Press.	1987
6	Oliwer B. M., Cage J. M.	Pomiary i przyrządy elektroniczne	WKiŁ, Warszawa.	1978
7	Soclof S.	Zastosowanie analogowych układów scalonych	WKiŁ, Warszawa.	1978
8	Syndenham P. H.	Podręcznik metrologii	WKiŁ, Warszawa.	1978

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Analogowe układy elektroniczne, Technika cyfrowa, Projektowanie układów (CAD), Miernictwo elektroniczne

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Ma wiedzę w zakresie struktur, zasad działania, analizy i podstaw projektowania analogowych układów elektronicznych, oraz wiedza w zakresie analogowych i cyfrowych metod pomiaru wielkości elektrycznyc

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Uruchamia układy prototypowe, przeprowadza pomiary układów elektronicznych, opracowuje dokumentację wyników pomiarów i ocenia ich dokładność.

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Potrafi pracować w zespole i komunikować się.

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Projektuje i wykonuje układy elektroniczne (analogowe lub cyfrowe).	projekt zespołowy	prezentacja wykonanego urządzenia elektronicznego i demonstracja jego działania	K_W09+++ K_U14+++ K_U15+++ K_K01++	P6S_KK P6S_UK P6S_UW P6S_WG
02	Określa parametry i charakterystyki układów elektronicznych.	projekt zespołowy	pisemne zestawienie zmierzonych parametrów i charakterystyk oraz prezentacja wykonanego urządzenia elektronicznego	K_W09+++ K_U14+++ K_U15+++	P6S_UK P6S_UW P6S_WG
03	Przygotowuje dokumentację techniczną opracowanego urządzenia elektronicznego.	projekt zespołowy	zwarty opis urządzenia zawierający parametry techniczne i charakterystyki	K_W09+++ K_U14+++	P6S_UK P6S_UW P6S_WG
04	Projektuje algorytmy oraz ich realizację programową do opracowania sygnałów w celu zwiększenia dokładności wyników pomiaru	projekt indywidualny, projekt zespołowy	prezentacja projektu, sprawozdanie z projektu	K_W09+ K_U15+	P6S_UW P6S_WG

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
5	TK01	Teoretyczna analiza układu elektronicznego wraz z obliczeniami.	P01, P02	MEK01
5	TK02	Symulacje komputerowe z wykorzystaniem oprogramowania CAD.	P03, P04	MEK01
5	TK03	Projekt i wykonanie płytki drukowanej. Montaż elementów, uruchomienie urządzenia, demonstracja działania (opis), pomiary parametrów.	P05P13	MEK01 MEK02
5	TK04	Sporządzenie dokumentacji urządzenia oraz opis wykonanych prac, procesu projektowania, opis zastosowań wykonanego układu/urządzenia.	P14P15	MEK03
5	TK05	Tematyka: pomiary podstawowych wielkości elektrycznych, układy kondycjonowania sygnałów w pomiarach wielkości nieelektrycznych, przetworniki skali, przetworniki funkcyjne, układy i programy komputerowe do badania wielkości układów, układy pomiarowe i pomocnicze w miernictwie elektrycznym, komputerowe i mikroprocesorowe programy do pomiaru i analizy sygnałów, opracowanie danych pomiarowych	P01-P15	MEK02
5	TK06	Analiza danych wejściowych, opracowanie algorytmu i programu oraz przeprowadzenie badań dotyczących opracowania danych pomiarowych w celu zwiększenia dokładności wyniku	P01-P05	MEK04

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Projekt/Seminarium (sem. 5)		Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem..	Wykonanie projektu/dokumentacji/raportu: 15.00 godz./sem. Przygotowanie do prezentacji: 5.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 5)		Udział w konsultacjach: 1.00 godz./sem.
Zaliczenie (sem. 5)		Zaliczenie ustne: 5.00 godz./sem.

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Projekt/Seminarium	Ocena za systematyczność i terminowość realizacji poszczególnych etapów projektu.
Ocena końcowa	Średnia ocen dla poszczególnych efektów kształcenia i oceny z zajęć projektowych.

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
(-)

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
Pr_Probl_zadanie_Projekt_4.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_2.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_1.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_3.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_5.pdf

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : tak

Dostępne materiały : Materiały prezentowane na zajęciach

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1	A. Kolek; M. Makowiec	Machine-Learning-Enhanced NEGF Solver of Interband Cascade Laser	2024
2	A. Kolek; M. Makowiec	Numerical NEGF-based study of Urbach tails in III-V materials and superlattices	2024
3	A. Kolek; M. Makowiec	Urbach tails in indium arsenide studied using nonequilibrium Green’s functions	2024
4	M. Dorozhovets; A. Szlachta	Problems of estimating the uncertainty of water pHmeasurement	2024
5	P. Gutowski; A. Kolek	Numerical optimization of gain region in dual-upper-state quantum cascade laser	2024
6	P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; D. Klepacki; K. Kuryło; W. Sabat; M. Skoczylas	Efficiency Measurements of Energy Harvesting from Electromagnetic Environment for Selected General Purpose Telecommunication Systems	2024
7	A. Kolek	Interband Tunneling in a Type-II Broken-Gap Superlattice	2023
8	A. Kolek; M. Makowiec	Quantum simulations of band-to-band tunnelling in a type-II broken-gap superlattice diode	2023
9	A. Kolek; M. Sobaszek	Nonlinear gain models in a quantum cascade laser	2023
10	M. Dorozhovets	Uncertainty of the conversion function caused by systematic effects in measurements of input and output quantities	2023
11	M. Dorozhovets; E. Pawłowski; D. Świsulski	Frequency measurement research with weight averaging of pulse output signal of voltage-to-frequency converter	2023
12	M. Dorozhovets; P. Kubiszyn	Weight Averaging of Pulse Width Modulated Signal	2023
13	M. Hubacz; D. Mazur; B. Pawłowicz; M. Salach; M. Skoczylas; B. Trybus	Navigation and mapping of closed spaces with a mobile robot and RFID grid	2023
14	P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; G. Laskowski; B. Pawłowicz; M. Skoczylas; M. Węglarski	Identification Efficiency in Dynamic UHF RFID Anticollision Systems with Textile Electronic Tags	2023
15	G. Hałdaś; A. Kolek	Optimization of gain region in mid-IR ( ≈ 5 μm) QCL	2022
16	M. Bugajski; P. Gutowski; G. Hałdaś; A. Kolek; D. Pierścińska; G. Sobczak	Linewidth Broadening in Short-Wavelength Quantum Cascade Lasers	2022
17	M. Bugajski; T. Czyszanowski; M. Dems; M. Janczak; A. Kolek; W. Nakwaski; R. Sarzała	Threshold performance of pulse-operating quantum-cascade vertical-cavity surface-emitting lasers	2022
18	M. Dorozhovets	Direct Solution of Polynomial Regression of Order Up to 3	2022
19	M. Dorozhovets	Type B uncertainty of two-channel measurements	2022
20	M. Dorozhovets; R. Ivakh; Z. Warsza	Correction of Temperature Influences in Moisture of Bulk Materials Measurement by Capacitance Method	2022
21	M. Hubacz; B. Pawłowicz; M. Skoczylas; B. Trybus	Sieć identyfikatorów RFID oraz sposób synchronizacji danych pomiędzy identyfikatorami sieci identyfikatorów RFID	2022
22	R. Budzich; T. Ciuk; Ł. Ciura; D. Czołak; A. Dobrowolski; J. Jagiełło; D. Kalita; A. Kolek; P. Michałowski; K. Piętak; M. Wzorek	Contamination-induced inhomogeneity of noise sources distribution in Al2O3-passivated quasi-free-standing graphene on 4H-SiC(0001)	2022
23	Ł. Gotówko; M. Hubacz; B. Pawłowicz; M. Salach; M. Skoczylas; B. Trybus	Room mapping system using RFID and mobile robots	2022
24	M. Dorozhovets	Exact distributions and interval estimation of the parameters of double exponential (Laplace) population for a small number of observations	2021
25	M. Dorozhovets	Measuring Amplifier Based on Hamon Resistors and Dynamic Element Matching Technology	2021
26	M. Dorozhovets	Wzmacniacz pomiarowy oraz sposób sterowania wzmacniaczem pomiarowym	2021
27	A. Kolek	Light-enhanced incoherence of electronic transport in quantum cascade lasers	2020
28	K. Cieśla; Ł. Ciura; A. Kolek; E. Machowska-Podsiadło; Z. Zawiślak	TRANSFER: Technologie materiałów i struktur dla detekcji długofalowego promieniowania podczerwonego (LWIR)	2020
29	M. Dorozhovets	Forward and inverse problems of Type A uncertainty evaluation	2020
30	M. Dorozhovets; O. Ivakhiv; B. Stadnyk	Lwowska szkoła metrologii Elektrycznej po drugiej wojnie światowej	2020
31	Ł. Ciura; A. Jasik; A. Kolek; D. Smoczyński	Four-point probe resistivity noise measurements of GaSb layers	2020
32	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; A. Kolek; P. Martyniuk; K. Michalczewski	1/f Noise in InAs/InAsSb Superlattice Photoconductors	2020
33	A. Kolek	Implementation of light–matter interaction in NEGF simulations of QCL	2019
34	I. Bubela; M. Dorozhovets; A. Szlachta	Investigation of the Instrumental Components in Uncertainty of Extreme Random Observations	2019
35	M. Augustyn; M. Dorozhovets	The Simple Virtual Impedance Spectroscopy Based on USB DAQ Card	2019
36	M. Augustyn; M. Dorozhovets	Zastosowanie komputerowych kart pomiarowych do realizacji wirtualnego analizatora widma impedancyjnego	2019
37	M. Bugajski; A. Czerwiński; T. Czyszanowski; M. Dems; A. Kolek; M. Kuc; D. Pierścińska; K. Pierściński; M. Płuska; R. Sarzała; W. Strupiński; M. Wesołowski	Coupled-cavity AlInAs/InGaAs/InP quantum cascade lasers fabricated by focused ion beam processing	2019
38	M. Bugajski; G. Hałdaś; A. Kolek	Comparison of quantum cascade structures for detection of nitric oxide at ~ 5.2 μm	2019
39	M. Dorozhovets	Effectiveness of automatic correction of systematic effects in measuring chains	2019
40	M. Dorozhovets; Y. Marushchak; D. Mazur	Operational Estimating of Arcs Voltage of Arc Steel Furnace	2019
41	Ł. Ciura; E. Gomółka; A. Kolek; M. Kopytko; P. Martyniuk; K. Murawski; A. Rogalski	Trap parameters in the infrared InAsSb absorber found by capacitance and noise measurements	2019
42	Ł. Ciura; K. Czuba; A. Jasik; A. Kolek; I. Sankowska	Low frequency noise of GaSb layers on GaAs substrate	2019
43	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; A. Kolek; P. Martyniuk; P. Ptak; J. Rutkowski	Low frequency noise of mid-wavelength interband cascade photodetectors up to 300 K	2019