Główny cel kształcenia:
Celem zajęć jest nabycie przez studenta umiejętności w zakresie twórczego rozwiązywania problemów praktycznych i stosowania współczesnych metod projektowania, oraz analizy i tworzenia urządzeń elektronicznych, a także prezentacji rozwiązywanych problemów.
Ogólne informacje o zajęciach:
Moduł obejmuje samodzielne zaprojektowanie i wykonanie prostego układu elektronicznego, z uwzględnieniem montażu, obudowy i pomiarów działania
1 | P. Horowitz, W. Hill | Sztuka elektroniki. Cz. 1-2 | WKŁ. | 2003 |
2 | - | Podręczniki zalecane w ramach przedmiotów "Analogowe Układy Elektroniczne", "Technika Cyfrowa" oraz | -. | - |
3 | - | Dokumentacja symulatorów układów elektronicznych (Multisim, PSpice) | -. | - |
4 | Lyons R. G. | Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów | WKiŁ, Warszawa. | 1999 |
5 | Mazda F.F. | Electronic instruments and measurement techniques | Cambrige University Press. | 1987 |
6 | Oliwer B. M., Cage J. M. | Pomiary i przyrządy elektroniczne | WKiŁ, Warszawa. | 1978 |
7 | Soclof S. | Zastosowanie analogowych układów scalonych | WKiŁ, Warszawa. | 1978 |
8 | Syndenham P. H. | Podręcznik metrologii | WKiŁ, Warszawa. | 1978 |
Wymagania formalne:
Analogowe układy elektroniczne, Technika cyfrowa, Projektowanie układów (CAD), Miernictwo elektroniczne
Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy:
Ma wiedzę w zakresie struktur, zasad działania, analizy
i podstaw projektowania analogowych układów elektronicznych, oraz wiedza w zakresie analogowych i cyfrowych metod pomiaru wielkości elektrycznyc
Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności:
Uruchamia układy prototypowe, przeprowadza pomiary układów elektronicznych, opracowuje dokumentację wyników pomiarów i ocenia ich dokładność.
Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych:
Potrafi pracować w zespole i komunikować się.
MEK | Student, który zaliczył zajęcia | Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia | Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia | Związki z KEK | Związki z PRK |
---|---|---|---|---|---|
MEK01 | Projektuje i wykonuje układy elektroniczne (analogowe lub cyfrowe). | projekt zespołowy | prezentacja wykonanego urządzenia elektronicznego i demonstracja jego działania |
K-W09+++ K-U14+++ K-U15+++ K-K01++ |
P6S-KK P6S-UK P6S-UW P6S-WG |
MEK02 | Określa parametry i charakterystyki układów elektronicznych. | projekt zespołowy | pisemne zestawienie zmierzonych parametrów i charakterystyk oraz prezentacja wykonanego urządzenia elektronicznego |
K-W09+++ K-U14+++ K-U15+++ |
P6S-UK P6S-UW P6S-WG |
MEK03 | Przygotowuje dokumentację techniczną opracowanego urządzenia elektronicznego. | projekt zespołowy | zwarty opis urządzenia zawierający parametry techniczne i charakterystyki |
K-W09+++ K-U14+++ |
P6S-UK P6S-UW P6S-WG |
MEK04 | Projektuje algorytmy oraz ich realizację programową do opracowania sygnałów w celu zwiększenia dokładności wyników pomiaru | projekt indywidualny, projekt zespołowy | prezentacja projektu, sprawozdanie z projektu |
K-W09+ K-U15+ |
P6S-UW P6S-WG |
Sem. | TK | Treści kształcenia | Realizowane na | MEK |
---|---|---|---|---|
5 | TK01 | P01, P02 | MEK01 | |
5 | TK02 | P03, P04 | MEK01 | |
5 | TK03 | P05P13 | MEK01 MEK02 | |
5 | TK04 | P14P15 | MEK03 | |
5 | TK05 | P01-P15 | MEK02 | |
5 | TK06 | P01-P05 | MEK04 |
Forma zajęć | Praca przed zajęciami | Udział w zajęciach | Praca po zajęciach |
---|---|---|---|
Projekt/Seminarium (sem. 5) | Godziny kontaktowe:
30.00 godz./sem.. |
Wykonanie projektu/dokumentacji/raportu:
15.00 godz./sem. Przygotowanie do prezentacji: 5.00 godz./sem. |
|
Konsultacje (sem. 5) | Udział w konsultacjach:
1.00 godz./sem. |
||
Zaliczenie (sem. 5) | Zaliczenie ustne:
5.00 godz./sem. |
Forma zajęć | Sposób wystawiania oceny podsumowującej |
---|---|
Projekt/Seminarium | Ocena za systematyczność i terminowość realizacji poszczególnych etapów projektu. |
Ocena końcowa | Średnia ocen dla poszczególnych efektów kształcenia i oceny z zajęć projektowych. |
Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
(-)
Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
Pr_Probl_zadanie_Projekt_4.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_2.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_1.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_3.pdf
Pr_Probl_zadanie_Projekt_5.pdf
Inne
(-)
Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : tak
Dostępne materiały : Materiały prezentowane na zajęciach
1 | A. Kolek; M. Makowiec | Machine-Learning-Enhanced NEGF Solver of Interband Cascade Laser | 2024 |
2 | A. Kolek; M. Makowiec | Numerical NEGF-based study of Urbach tails in III-V materials and superlattices | 2024 |
3 | A. Kolek; M. Makowiec | Urbach tails in indium arsenide studied using nonequilibrium Green’s functions | 2024 |
4 | M. Bugajski; G. Hałdaś; A. Kolek; W. Kołkowski; I. Pasternak; K. Pierściński; W. Strupiński | MOCVD Grown InGaAs/InAlAs Quantum Cascade Lasers Emitting at 7.7 μm | 2024 |
5 | M. Dorozhovets | Niepewność jednoczesnego pomiaru dwoma miernikami | 2024 |
6 | M. Dorozhovets | Simple and accurate method to evaluate type a standard and expanded uncertainties of measurement for the Laplace distributed observations | 2024 |
7 | M. Dorozhovets; A. Szlachta | Problems of estimating the uncertainty of water pHmeasurement | 2024 |
8 | P. Gutowski; A. Kolek | Numerical optimization of gain region in dual-upper-state quantum cascade laser | 2024 |
9 | P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; D. Klepacki; K. Kuryło; W. Sabat; M. Skoczylas | Efficiency Measurements of Energy Harvesting from Electromagnetic Environment for Selected General Purpose Telecommunication Systems | 2024 |
10 | A. Kolek | Interband Tunneling in a Type-II Broken-Gap Superlattice | 2023 |
11 | A. Kolek; M. Makowiec | Quantum simulations of band-to-band tunnelling in a type-II broken-gap superlattice diode | 2023 |
12 | A. Kolek; M. Sobaszek | Nonlinear gain models in a quantum cascade laser | 2023 |
13 | M. Dorozhovets | Uncertainty of the conversion function caused by systematic effects in measurements of input and output quantities | 2023 |
14 | M. Dorozhovets; E. Pawłowski; D. Świsulski | Frequency measurement research with weight averaging of pulse output signal of voltage-to-frequency converter | 2023 |
15 | M. Dorozhovets; P. Kubiszyn | Weight Averaging of Pulse Width Modulated Signal | 2023 |
16 | M. Hubacz; D. Mazur; B. Pawłowicz; M. Salach; M. Skoczylas; B. Trybus | Navigation and mapping of closed spaces with a mobile robot and RFID grid | 2023 |
17 | P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; G. Laskowski; B. Pawłowicz; M. Skoczylas; M. Węglarski | Identification Efficiency in Dynamic UHF RFID Anticollision Systems with Textile Electronic Tags | 2023 |
18 | G. Hałdaś; A. Kolek | Optimization of gain region in mid-IR ( ≈ 5 μm) QCL | 2022 |
19 | M. Bugajski; P. Gutowski; G. Hałdaś; A. Kolek; D. Pierścińska; G. Sobczak | Linewidth Broadening in Short-Wavelength Quantum Cascade Lasers | 2022 |
20 | M. Bugajski; T. Czyszanowski; M. Dems; M. Janczak; A. Kolek; W. Nakwaski; R. Sarzała | Threshold performance of pulse-operating quantum-cascade vertical-cavity surface-emitting lasers | 2022 |
21 | M. Dorozhovets | Direct Solution of Polynomial Regression of Order Up to 3 | 2022 |
22 | M. Dorozhovets | Type B uncertainty of two-channel measurements | 2022 |
23 | M. Dorozhovets; R. Ivakh; Z. Warsza | Correction of Temperature Influences in Moisture of Bulk Materials Measurement by Capacitance Method | 2022 |
24 | M. Hubacz; B. Pawłowicz; M. Skoczylas; B. Trybus | Sieć identyfikatorów RFID oraz sposób synchronizacji danych pomiędzy identyfikatorami sieci identyfikatorów RFID | 2022 |
25 | R. Budzich; T. Ciuk; Ł. Ciura; D. Czołak; A. Dobrowolski; J. Jagiełło; D. Kalita; A. Kolek; P. Michałowski; K. Piętak; M. Wzorek | Contamination-induced inhomogeneity of noise sources distribution in Al2O3-passivated quasi-free-standing graphene on 4H-SiC(0001) | 2022 |
26 | Ł. Gotówko; M. Hubacz; B. Pawłowicz; M. Salach; M. Skoczylas; B. Trybus | Room mapping system using RFID and mobile robots | 2022 |
27 | M. Dorozhovets | Exact distributions and interval estimation of the parameters of double exponential (Laplace) population for a small number of observations | 2021 |
28 | M. Dorozhovets | Measuring Amplifier Based on Hamon Resistors and Dynamic Element Matching Technology | 2021 |
29 | M. Dorozhovets | Wzmacniacz pomiarowy oraz sposób sterowania wzmacniaczem pomiarowym | 2021 |
30 | A. Kolek | Light-enhanced incoherence of electronic transport in quantum cascade lasers | 2020 |
31 | K. Cieśla; Ł. Ciura; A. Kolek; E. Machowska-Podsiadło; Z. Zawiślak | TRANSFER: Technologie materiałów i struktur dla detekcji długofalowego promieniowania podczerwonego (LWIR) | 2020 |
32 | M. Dorozhovets | Forward and inverse problems of Type A uncertainty evaluation | 2020 |
33 | M. Dorozhovets; O. Ivakhiv; B. Stadnyk | Lwowska szkoła metrologii Elektrycznej po drugiej wojnie światowej | 2020 |
34 | Ł. Ciura; A. Jasik; A. Kolek; D. Smoczyński | Four-point probe resistivity noise measurements of GaSb layers | 2020 |
35 | Ł. Ciura; K. Hackiewicz; A. Kolek; P. Martyniuk; K. Michalczewski | 1/f Noise in InAs/InAsSb Superlattice Photoconductors | 2020 |