Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Poznanie budowy i podstawowych parametrów wybranych czujników pomiarowych wielkości fizycznych, zasad normalizacji sygnałów pomiarowych, oraz podstawowych systemów automatycznej akwizycji sygnałów.

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł prowadzony jest na trzecim semestrze studiów inżynierskich na kierunku "elektronika i telekomunikacja" ET-DI-2(03).

Materiały dydaktyczne: Materiały pomocnicze do ćwiczeń laboratoryjnych

Inne: Formularze sprawozdań z przebiegu ćwiczeń laboratoryjnych

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

1	Marks-Wojciechowska Z., Pacholski K., Kulesza W.	Systemy pomiarowe	Politechnika Łódzka.	1999
2	Świsulski D.	Systemy pomiarowe - laboratorium	Politechnika Gdańska.	2001
3	Rudy v.d. P.	Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe	WKŁ, Warszawa.	2001
4	Winiecki W.	Organizacja komputerowych systemów pomiarowych	OW Politechniki Warszawskiej, Warszawa.	1997
5	Nawrocki W.	Sensory i systemy pomiarowe	Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań.	2001
6	Lesiak P., Świsulski D.	Komputerowa technika pomiarowa	Agenda Wydawnicza PAK, Warszawa.	2002
7	Kowalczyk A.	Miernictwo elektryczne wielkości nieelektrycznych (materiały pomocnicze do wykładu)	OWPRz, Rzeszów.	1997

Literatura do samodzielnego studiowania

1	Tumański S.	Laboratorium miernictwa przemysłowego	Skrypt PW, Warszawa.	1978
2	Szumielewicz B., Słomski B., Styburski W.	Pomiary elektroniczne w technice	WNT, Warszawa.	1982
3	Sydenham H.	Pdręcznik metrologii T.2. Podstawy praktyczne	WKiŁ, Warszawa.	1990
4	Miłek M.	Pomiary wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Podręcznik akademicki	Zielona Góra.	1998

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Rejestracja na trzecim semestrze studiów.

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z metrologii i elektroniki

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie obsługi elektronicznego sprzętu pomiarowego oraz komputera.

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Podstawowe umiejętności pracy w zespole.

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Wyjaśnia podstawowe pojęcia opisujące właściwości metrologiczne statyczne i dynamiczne czujników i układów normalizacji sygnałów	wykład, wykład interaktywny	egzamin cz. pisemna	K_W15+	P6S_WG
02	Przeprowadza podstawowe eksperymenty przetwarzania sygnałów i wyznaczania właściwości metrologicznych w analogowych torach pomiarowych	laboratorium, laboratorium problemowe	obserwacja wykonawstwa, ocena sprawozdania	K_U07+ K_U19+ K_K08+ K_K10+	P6S_KK P6S_KR P6S_UW
03	Wykorzystuje wybrane cyfrowe systemy pomiarowe do przetwarzania danych i uzyskania wyniku pomiaru	laboratorium, laboratorium problemowe	obserwacja wykonawstwa, ocena sprawozdania	K_U07+ K_U19+ K_K08+ K_K10+	P6S_KK P6S_KR P6S_UW

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
2	TK01	System pomiarowy - wprowadzenie, podstawowe pojęcia; Architektura systemów pomiarowych - sprzęt i oprogramowanie; Przetworniki wielkości fizycznych - podstawowe układy pomiarowe podsystemów pomiarowych, własności statyczne i dynamiczne; Moduły normalizacji sygnałów czujników pomiarowych; Specjalizowane moduły systemów pomiarowych: Specjalizowane moduły systemów pomiarowych: kondycjonery, wzmacniacze pomiarowe, multipleksery, przetworniki A/C i C/A, liczniki, interfejsy komunikacyjne; Przetwarzanie A/C w systemach pomiarowych - budowa przetworników, podsystemy wyzwalania przetwarzania A/C i C/A, programowanie rejestrowe; Interfejsy komunikacyjne; Mikrokonwertery - czujniki inteligentne; Systemy szybkiego i precyzyjnego przetwarzania A/C; Kalibracja systemów pomiarowych; Przetwarzanie informacji pomiarowej, wybrane metody numerycznego przetwarzania informacji, numeryczna linearyzacja charakterystyk czujników fizycznych. Przykłady systemów do pomiarów wielkości fizycznych: temperatury, siły, przesunięcia, dźwięku.	W01-W30; L01-L30	MEK01 MEK02 MEK03

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Wykład (sem. 2)		Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 2)		Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 2)
Egzamin (sem. 2)

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład
Laboratorium
Ocena końcowa	pozytywna ocena końcowa = 0,5 oceny z wykładu + 0,5 oceny z laboratorium

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
(-)

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
(-)

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : nie

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1	A. Kowalczyk	Metody probabilistyczne w elektronice	2022
2	A. Kowalczyk; A. Szlachta	Using conditional averaging of delayed signals to measure phase shift angle	2022
3	A. Kowalczyk	Historia Katedry Metrologii i Systemów Diagnostycznych Politechniki Rzeszowskiej i jej współpracy z Katedrą Technologii Informacyjno-Pomiarowych Narodowego Uniwersytetu \"Lwowska Politechnika\"	2020
4	A. Kowalczyk	Teoretyczne i przydatne eksperymentalnie modele szumów	2020
5	A. Kowalczyk	Wpływ zniekształceń i zakłóceń harmonicznych na dokładność fazomierza regresyjnego	2020
6	A. Kowalczyk; A. Szlachta	Propagacja i analiza sygnałów w wybranych systemach elektronicznych i telekomunikacyjnych	2020
7	R. Chorzępa; A. Kowalczyk	Processing Accuracy of Instantaneous Values of a Stochastic Signal in an Inertial Measurement System	2020