Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Zapoznanie studenta z celami i metodami programowej obsługi aparatury elektronicznej z wykorzystaniem nowoczesnych środowisk programistycznych.

Ogólne informacje o zajęciach: Omawiane są: środowiska wspomagające programowanie aparatury z nastawianiem na LabVIEW, systemy kontrolno-pomiarowe, interfejsy do komunikacji, metody i sposoby programowania aparatury i systemów kontrolno-pomiarowych.

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

1	A.W. Stadler	Systemy akwizycji i przesyłania danych	Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej.	2002
2	W. Winiecki	Organizacja komputerowych systemów pomiarowych	Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej.	2005
3	R. J. Rak	Wirtualny przyrząd pomiarowy, realne narzędzie współczesnej metrologii	Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej.	2003
4	Konrad Hejn, Antoni Leśniewski	Systemy pomiarowe	Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej.	2017
5	Richard Jennings	LabVIEW Graphical Programming, Fifth Edition	McGraw-Hill.	2019

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

1

A. W. Stadler

Systemy akwizycji i przesyłania danych

Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej.

2002

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Rejestracja na siódmy semestr studiów inżynierskich

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z podstaw elektroniki i metrologii.

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie wykonywania pomiarów, przetwarzania i rejestracji, a także interpretacji wyników.

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Umiejętność współpracy w zespole.

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Student umie dobrać właściwy interfejs komunikacyjny stosownie do wymagań związanych z przepustowością danych i liczbą współpracujących urządzeń	wykład, laboratorium	egzamin cz. pisemna, obserwacja wykonawstwa	K_W10++ K_U05+ K_U19+ K_K03+	P6S_KR P6S_UU P6S_UW P6S_WG
02	Student potrafi skonstruować niezależną od rodzaju interfejsu komunikacyjnego warstwę programową dla kontrolera nadrzędnego do sterowania urządzeniem zewnętrznym, posługując się graficznym językiem programowania.	wykład, laboratorium	obserwacja wykonawstwa	K_W10+ K_W14+++ K_U05+ K_U11++ K_U12+++ K_K03+ K_K04+	P6S_KR P6S_UO P6S_UU P6S_UW P6S_WG
03	Student potrafi skonstruować warstwę programu wbudowanego pozwalającą na zdalne sterowanie urządzeniem i raportowanie stanu urządzenia	wykład, laboratorium	obserwacja wykonawstwa	K_W10++ K_W14+++ K_U05+ K_U11+ K_U12+++ K_K03+	P6S_KR P6S_UU P6S_UW P6S_WG

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
7	TK01	Budowa przyrządu wirtualnego i sposoby jego realizacji	W,L	MEK01 MEK02
7	TK02	Zadania programu wbudowanego i metody ich realizacji	W, L	MEK01 MEK03

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Wykład (sem. 7)		Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 7)		Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 7)
Zaliczenie (sem. 7)

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład	W oparciu o pisemny sprawdzian.
Laboratorium	Ocena stopnia wykonania programu komputerowego do obsługi programowej aparatury.
Ocena końcowa	Egzamin (pisemny) z zagadnień poruszanych na laboratorium lub na podstawie ważonej średniej ocen z wykładu (waga 0.3) i laboratorium (waga 0.7).

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
(-)

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
(-)

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : nie

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1	J. Boguski; B. Budner; Ł. Ciura; B. Jankiewicz; Ł. Kubiszyn; M. Liszewska; P. Michałowski; P. Moszczyński; S. Odrzywolski; J. Wróbel; J. Wróbel; S. Złotnik	Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern	2023
2	J. Boguski; Ł. Ciura; J. Wróbel; J. Wróbel	Investigation of 1/f noise sources with the coherence function	2023
3	R. Budzich; T. Ciuk; Ł. Ciura; D. Czołak; A. Dobrowolski; J. Jagiełło; D. Kalita; A. Kolek; P. Michałowski; K. Piętak; M. Wzorek	Contamination-induced inhomogeneity of noise sources distribution in Al2O3-passivated quasi-free-standing graphene on 4H-SiC(0001)	2022
4	Ł. Ciura; D. Jarosz; P. Krzemiński; M. Marchewka; M. Ruszała; P. Śliż	Low Frequency Noise Properties of InAs/GaSb Superlattice	2022
5	Ł. Ciura; P. Krzemiński; M. Marchewka; P. Śliż	Evaluation of Metal–Semiconductor Contact Quality: Correlation of 1/f Noise and Nonlinearity	2022
6	K. Czuba; Ł. Ciura; A. Jasik	Impact of conductivity type change in InAs/GaSb superlattice on low frequency noise of photoconductive long-wavelength infrared detectors	2021
7	Ł. Ciura; K. Czuba ; A. Jasik; E. Papis-Polakowska; I. Sankowska	The Role of Noise in Specific Detectivity of InAs/GaSb Superlattice MWIR Bariodes	2021
8	K. Cieśla; Ł. Ciura; A. Kolek; E. Machowska-Podsiadło; Z. Zawiślak	TRANSFER: Technologie materiałów i struktur dla detekcji długofalowego promieniowania podczerwonego (LWIR)	2020
9	Ł. Ciura; A. Jasik; A. Kolek; D. Smoczyński	Four-point probe resistivity noise measurements of GaSb layers	2020
10	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; A. Kolek; P. Martyniuk; K. Michalczewski	1/f Noise in InAs/InAsSb Superlattice Photoconductors	2020
11	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; M. Kopytko; P. Martyniuk; J. Rutkowski	Influence of GaAs and GaSb substrates on detection parameters of InAs/GaSb superlattice-based mid-infrared interband cascade photodetectors	2020
12	Ł. Ciura; M. Kopytko; P. Martyniuk	Low-frequency noise limitations of InAsSb-, and HgCdTe-based infrared detectors	2020
13	Ł. Ciura; E. Gomółka; A. Kolek; M. Kopytko; P. Martyniuk; K. Murawski; A. Rogalski	Trap parameters in the infrared InAsSb absorber found by capacitance and noise measurements	2019
14	Ł. Ciura; K. Czuba; A. Jasik; A. Kolek; I. Sankowska	Low frequency noise of GaSb layers on GaAs substrate	2019
15	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; A. Kolek; P. Martyniuk; P. Ptak; J. Rutkowski	Low frequency noise of mid-wavelength interband cascade photodetectors up to 300 K	2019
16	Ł. Ciura; K. Hackiewicz; M. Kopytko; P. Martyniuk; J. Rutkowski	InAs/GaSb Superlattice Based Mid-Infrared Interband Cascade Photodetectors Grown on Both Native GaSb and Lattice-Mismatched GaAs Substrates	2019