Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Głównym celem jest poznanie budowy i własności mikro-systemów pomiarowych oraz systemów CPS opartych na procesorach sygnałowych.

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł prowadzony jest na 6 semestrze studiów inżynierskich na kierunku "elektronika i telekomunikacja" o specjalności "elektroniczne systemy pomiarowe i diagnostyczne" ET-DI

Materiały dydaktyczne: Materiały dydaktyczne student otrzymuje podczas zajęć w formie elektronicznej

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

1	Mariusz Węglarski	Instrukcje laboratoryjne	Zakład Systemów Elektronicznych i Telekomunikacyjnych.
2	Mariusz Węglarski	Materiały pomocnicze Laboratorium systemów mikroprocesorowych	Zakład Systemów Elektronicznych i Telekomunikacyjnych.
3	ST Microelectronics, Atmel, inne	Dokumentacje techniczne systemów uruchomieniowych dostępnych na przedmiotowym laboratorium	strony WWW.
4	ST Microelectronics, Atmel, inne	Dokumentacje techniczne środowisk projektowych dostępnych na przedmiotowym laboratorium	strony WWW.
5	Mariusz Węglarski	Materiały udostępnione na stronie domowej	https://wmar.v.prz.edu.pl/materialy .

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

1

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

.

Literatura do samodzielnego studiowania

1	Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych		.
2	Internet	Noty aplikacyjne układów cyfrowych i podzespołów elektronicznych, dostępne na stronach WWW	strony WWW.
3	Czasopisma branżowe	Publikacje w czasopismach poświęconych tematyce przedmiotu	wydawnictwa techniczne.

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Rejestracja na 5 semestrze studiów.

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z metrologii i elektroniki

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie obsługi elektronicznego sprzętu pomiarowego oraz komputera.

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Podstawowe umiejętności pracy w zespole.

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Ma podstawową wiedzę na temat aktualnego stanu oraz najnowszych trendów rozwojowych w elektronice.	wykład, laboratorium	test pisemny	K_W03+++ K_U01+++ K_U17++ K_K01+	P6S_KK P6S_UU P6S_UW P6S_WG
02	Ma szczegółową wiedzę w zakresie sposobu funkcjonowania oraz aktualnych rozwiązań technicznych układów, urządzeń i systemów elektronicznych.	wykład, laboratorium	test pisemny	K_W10+ K_U12++ K_K03+ K_K10++	P6S_KK P6S_KR P6S_UW P6S_WG

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
6	TK01	Nowe tendencje rozwojowe w technice mikrosystemów pomiarowych	W01	MEK01
6	TK02	Moduły architektury mikrosystemów - liczniki/zegary, przetworniki A/C i C/A, źródła napięć referencyjnych, multipleksery, programowane wzmacniacze pomiarowe, interfejsy	W02, L01	MEK01 MEK02
6	TK03	Przetwarzanie A/C i C/A w mikrosystemach – podsystemy wyzwalania, programowanie rejestrowe, zagadnienia transferu i skalowania danych pomiarowych, kalibracja przetworników	W03, L02	MEK02
6	TK04	Środowiska wspomagania budowy aplikacji użytkownika	W04, L03	MEK02
6	TK05	Przetwarzanie informacji pomiarowej w modułach systemu, systemy wielokanałowe, akwizycja danych pomiarowych	W05, L04	MEK02
6	TK06	Architektura RISC	W06	MEK01
6	TK07	Systemy mikroprocesorowe rodziny STM32 – wybrane zagadnienia architektury	W07, L05	MEK01
6	TK08	Architektura ARM, architektura pamięci, interfejsy urządzeń peryferyjnych, magistrale systemowe	W08, L06	MEK01
6	TK09	Język programowania mikrokontrolerów	W09, L07	MEK01
6	TK10	Narzędzia projektowania mikrosystemów	W10, L08	MEK02
6	TK11	Narzędzia diagnostyczne dla mikrosystemów	W11, L09	MEK02
6	TK12	Analiza przykładowych aplikacji mikrosystemów pomiarowych	W12, L10	MEK02

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Wykład (sem. 6)	Przygotowanie do kolokwium: 9.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 25.00 godz./sem.	Uzupełnienie/studiowanie notatek: 5.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 6)	Przygotowanie do laboratorium: 10.00 godz./sem. Przygotowanie do kolokwium: 10.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 20.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 6)	Przygotowanie do konsultacji: 2.00 godz./sem.	Udział w konsultacjach: 2.00 godz./sem.
Egzamin (sem. 6)	Przygotowanie do egzaminu: 5.00 godz./sem.	Egzamin pisemny: 2.00 godz./sem.

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład	5 minutowe kolokwia na każdym wykładzie. 5,0 >=90% poprawnych odpowiedzi; 4,5 >=80% i <90% poprawnych odpowiedzi; 4,0 >=70% i <80% poprawnych odpowiedzi; 3,5 >=60% i <70% poprawnych odpowiedzi; 3,0 w przypadku >=50% i <60% poprawnych odpowiedzi.
Laboratorium	Dwa kolokwia na stanowisku komputerowym + aktywność na zajęciach. Średnia z uzyskanych ocen.
Ocena końcowa	Ocena końcowa wyznaczana jest jako średnia ważona na podstawie ocen z poszczególnych form zajęć: ocena z laboratorium z wagą 0,5; ocena z wykładu z wagą 0,5. Dla studentów, którzy nie uzyskali pozytywnej oceny końcowej jest przeprowadzany egzamin na stanowisku laboratoryjnym.

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
(-)

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
(-)

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : nie

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1	P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; G. Laskowski; B. Pawłowicz; M. Skoczylas; M. Węglarski	Identification Efficiency in Dynamic UHF RFID Anticollision Systems with Textile Electronic Tags	2023
2	P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; P. Pyt; K. Skrobacz; M. Węglarski	Empowering Accessibility: BLE Beacon-Based IoT Localization	2023
3	P. Jankowski-Mihułowicz; K. Karpiński; P. Pyt; K. Skrobacz; M. Węglarski	UHF Textronic RFID Transponder with Bead-Shaped Microelectronic Module	2023
4	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Kołcz; B. Pawłowicz; M. Węglarski	Identification Efficiency in RFIDtex Enabled Washing Machine	2023
5	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Nizioł; M. Węglarski	The Influence of the Washing Process on the Impedance of Textronic Radio Frequency Identification Transponder Antennas	2023
6	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski; B. Wilczkiewicz	Test Platform for Developing Processes of Autonomous Identification in RFID Systems with Proximity-Range Read/Write Devices	2023
7	P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski	Bluetooth Low Energy Beacon Powered by the Temperature Difference	2023
8	P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski; A. Ziobro	Investigation of Factors Affecting the Performance of Textronic UHF RFID Transponders	2023
9	M. Chamera; C. Ciejka; P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; W. Lichoń; G. Pitera; P. Pyt; M. Węglarski	RFID Sensors for Monitoring Glazing Units Integrating Photovoltaic Modules	2022
10	M. Chamera; P. Jankowski-Mihułowicz; G. Laskowski; M. Węglarski; B. Wilczkiewicz	The Influence of Textile Substrates on the Performance of Textronic RFID Transponders	2022
11	M. Chamera; C. Ciejka; P. Jankowski-Mihułowicz; W. Lichoń; P. Pyt; M. Węglarski	Synthesis of Antennas for Active Glazing Unit with Photovoltaic Modules	2021
12	M. Chamera; P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski	Textronic UHF RFID Transponder	2021
13	P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski	Aktywna podłoga oraz spersonalizowany system sterowania wykorzystujący aktywną podłogę	2021
14	P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski	Beacons powered by peltier modules, using heat loss from industrial objects	2021
15	M. Chamera; J. Dziedzic; P. Jankowski-Mihułowicz; P. Kwaśnicki; M. Węglarski	Designing Antennas for RFID Sensors in Monitoring Parameters of Photovoltaic Panels	2020
16	M. Chamera; P. Jankowski-Mihułowicz; P. Pyt; M. Węglarski	Układ i sposób elektronicznego monitorowania procesu tankowania paliwa z wykorzystaniem techniki RFID	2020
17	M. Dorczyński; P. Jankowski-Mihułowicz; D. Jurków; G. Pitera; M. Węglarski	LTCC Flow Sensor with RFID Interface	2020
18	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Badania parametrów identyfikatorów RFID pasma HF lokowanych w otoczeniu obiektów metalowych wybranych układów użytkowych	2020
19	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Prace B+R w zakresie implementacji systemów radiowej identyfikacji obiektów RFID z uwzględnieniem aplikacji IoT	2020
20	M. Chamera; P. Jankowski-Mihułowicz; K. Kamuda; W. Lichoń; G. Pitera; P. Pyt; T. Wałach; M. Węglarski	Uwarunkowania syntezy zintegrowanego z obiektem, autonomicznego, półpasywnego identyfikatora - czujnika RFID, przeznaczonego do wykorzystywania w systemie obejmującym proces produkcji, dystrybucji, instalacji, eksploatacji, serwisu/konserwacji i utylizacji paneli fotowoltaicznych	2019
21	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Badania dopasowania układów antenowych systemów NFC oraz BT funkcjonujących w licznikach form wtryskowych	2019
22	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Badania wybranych parametrów identyfikatorów radiowych systemu antykradzieżowego 8,2 MHz	2019
23	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Factors affecting the synthesis of autonomous sensors with RFID interface	2019
24	P. Jankowski-Mihułowicz; M. Węglarski	Tekstroniczny identyfikator RFID	2019
25	P. Jankowski-Mihułowicz; W. Lichoń; M. Pilarz; M. Węglarski	Efficiency Problem of FMCG Identification in HF RFID System with Multiplexed Antennas for Commercial Refrigerator	2019
26	P. Jankowski-Mihułowicz; W. Lichoń; M. Węglarski	A Procedure for Validating Impedance Parameters of HF/UHF RFID Transponder Antennas	2019