Cykl kształcenia: 2024/2025
Nazwa jednostki prowadzącej studia: Wydział Elektrotechniki i Informatyki
Nazwa kierunku studiów: Elektronika i telekomunikacja
Obszar kształcenia: nauki techniczne
Profil studiów: ogólnoakademicki
Poziom studiów: drugiego stopnia
Forma studiów: stacjonarne
Specjalności na kierunku: Systemy elektroniczne
Tytuł otrzymywany po ukończeniu studiów: magister inżynier
Nazwa jednostki prowadzącej zajęcia: Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych
Kod zajęć: 2515
Status zajęć: wybierany dla specjalności Systemy elektroniczne
Układ zajęć w planie studiów: sem: 3 / W30 L15 / 2 ECTS / Z
Język wykładowy: polski
Imię i nazwisko koordynatora: prof. dr hab. inż. Mykhaylo Dorozhovets
Terminy konsultacji koordynatora: poniedziałek, 16:00
Główny cel kształcenia: Celem kształcenia modułu „Cyfrowe przyrządy pomiarowe” jest zdobycie studentami wiedzy i umiejętności wyboru metod pomiarów cyfrowych oraz projektowania autonomicznych cyfrowych przyrządów pomiarowych a także wirtualnych na bazie kart pomiarowych i oprogramowania graficznego
Ogólne informacje o zajęciach: Moduł prowadzony jest na trzecim semestrze studiów magisterskich na kierunku „Elektronika i telekomunikacja” ET/E-DU-2(03)
Materiały dydaktyczne: Materiały wykładów w formacie PowerPoint, instrukcji do ćwiczeń laboratoryjnych
1 | Stabrowski M. | Miernictwo elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa. | Warszawa. WPW.. | 1994 |
2 | Rudy van der Plasche. | Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfro-analogowe. | WKiŁ, . | 2001 |
3 | Lesiak P. Świsulski D. | Komputerowa technika pomiarowa. W przykładach. | AW PAK. Warszawa. . | 2002. |
1 | Świsulski D. | Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW. | AW PAK. Warszawa. . | 2005 |
2 | Strony internetowe i katalogi produkcji firm: NATIONAL INSTRUMENTS, KEITLEY, AGILENT, ADVANTECH, IOT | . |
1 | Sydenham P.D. | Podręcznik metrologii. Warszawa. | WKiŁ. . | 1990. |
Wymagania formalne: Rejestracja na trzeci semestr studiów magisterskich
Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z podstaw elektrotechniki, elektroniki, układów elektronicznych, metrologii, miernictwa elektronicznego, cyfrowego przetwarzania sygnałów, graficznych środowisk programowalnych,
Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie wykonywania pomiarów, rejestracji danych w plikach komputerów oraz umiejętności programowania w LabView lub innych środowiskach,
Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Umiejętność współpracy w zespole
MEK | Student, który zaliczył zajęcia | Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia | Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia | Związki z KEK | Związki z PRK |
---|---|---|---|---|---|
01 | Zna podstawowe zasady cyfrowych pomiarów oraz podstawowe schematy struktur cyfrowych przyrządów pomiarowych | wykład interaktywny, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW |
02 | Potrafi dobrać metodę oraz zrealizować pomiar parametrów czasowo-częstotliwościowych o zdanych parametrach dokładności | wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_W02+ K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW P7S_WG |
03 | Potrafi zrealizować cyfrowy pomiar napięcia, prądu, rezystancji na prądzie stałym w warunkach oddziaływań systematycznych oraz zakłóceń okresowych i losowych | wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_W02+ K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW P7S_WG |
04 | Wykorzystując kartę pomiarową wraz z oprogramowaniem potrafi potrafi zrealizować cyfrowy pomiar parametrów sygnałów przemiennych w zadanym paśmie częstotliwości oraz przy odchyleniu kształtu sygnału od harmonicznego | wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_W02+ K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW P7S_WG |
05 | Potrafi zrealizować cyfrowy pomiar parametrów LC w wirtualnym mierniku na bazie karty pomiarowej | wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_W02+ K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW P7S_WG |
06 | Zna podstawowe składowe niepewności podczas cyfrowych pomiarów oraz metrologiczne charakterystyki cyfrowych przyrządów pomiarowych | wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny | Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa |
K_U10+ K_K05+ |
P7S_KK P7S_UW |
Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).
Sem. | TK | Treści kształcenia | Realizowane na | MEK |
---|---|---|---|---|
3 | TK01 | W1 | MEK01 | |
3 | TK02 | W2 | MEK01 | |
3 | TK03 | W3, W4 | MEK02 | |
3 | TK04 | W5 | MEK02 | |
3 | TK05 | W6, W7 | MEK03 | |
3 | TK06 | W8, W9 | MEK03 | |
3 | TK07 | W10 | MEK03 | |
3 | TK08 | W11, W12 | MEK04 | |
3 | TK09 | W13 | MEK04 | |
3 | TK10 | W14 | MEK05 | |
3 | TK11 | W15 | MEK06 |
Forma zajęć | Praca przed zajęciami | Udział w zajęciach | Praca po zajęciach |
---|---|---|---|
Wykład (sem. 3) | Przygotowanie do kolokwium:
12.00 godz./sem. |
Godziny kontaktowe:
30.00 godz./sem. |
Studiowanie zalecanej literatury:
2.00 godz./sem. |
Laboratorium (sem. 3) | Przygotowanie do laboratorium:
5.00 godz./sem. Przygotowanie do kolokwium: 5.00 godz./sem. |
Godziny kontaktowe:
15.00 godz./sem. |
|
Konsultacje (sem. 3) | Udział w konsultacjach:
2.00 godz./sem. |
||
Zaliczenie (sem. 3) | Przygotowanie do zaliczenia:
5.00 godz./sem. |
Zaliczenie pisemne:
2.00 godz./sem. Inne: 1.00 godz./sem. |
Forma zajęć | Sposób wystawiania oceny podsumowującej |
---|---|
Wykład | Na podstawie zaliczenia pisemnego |
Laboratorium | Na podstawie pisemnych sprawozdań oraz prezentacji umiejętności praktycznych pisemnego |
Ocena końcowa | Ocena końcowa= 0,6 oceny z wykładów + 0,4 oceny z ćwiczeń |
Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
KRK_CPP_Zag_teor.JPG
Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
KRK_CPP_II_lab.png
Inne
(-)
Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : tak
Dostępne materiały : Materiały wykładów w formacie Power point, instrukcji do ćwiczeń laboratoryjnych
1 | M. Dorozhovets; A. Szlachta | Problems of estimating the uncertainty of water pHmeasurement | 2024 |
2 | M. Dorozhovets | Uncertainty of the conversion function caused by systematic effects in measurements of input and output quantities | 2023 |
3 | M. Dorozhovets; E. Pawłowski; D. Świsulski | Frequency measurement research with weight averaging of pulse output signal of voltage-to-frequency converter | 2023 |
4 | M. Dorozhovets; P. Kubiszyn | Weight Averaging of Pulse Width Modulated Signal | 2023 |
5 | M. Dorozhovets | Direct Solution of Polynomial Regression of Order Up to 3 | 2022 |
6 | M. Dorozhovets | Type B uncertainty of two-channel measurements | 2022 |
7 | M. Dorozhovets; R. Ivakh; Z. Warsza | Correction of Temperature Influences in Moisture of Bulk Materials Measurement by Capacitance Method | 2022 |
8 | M. Dorozhovets | Exact distributions and interval estimation of the parameters of double exponential (Laplace) population for a small number of observations | 2021 |
9 | M. Dorozhovets | Measuring Amplifier Based on Hamon Resistors and Dynamic Element Matching Technology | 2021 |
10 | M. Dorozhovets | Wzmacniacz pomiarowy oraz sposób sterowania wzmacniaczem pomiarowym | 2021 |
11 | M. Dorozhovets | Forward and inverse problems of Type A uncertainty evaluation | 2020 |
12 | M. Dorozhovets; O. Ivakhiv; B. Stadnyk | Lwowska szkoła metrologii Elektrycznej po drugiej wojnie światowej | 2020 |
13 | I. Bubela; M. Dorozhovets; A. Szlachta | Investigation of the Instrumental Components in Uncertainty of Extreme Random Observations | 2019 |
14 | M. Augustyn; M. Dorozhovets | The Simple Virtual Impedance Spectroscopy Based on USB DAQ Card | 2019 |
15 | M. Augustyn; M. Dorozhovets | Zastosowanie komputerowych kart pomiarowych do realizacji wirtualnego analizatora widma impedancyjnego | 2019 |
16 | M. Dorozhovets | Effectiveness of automatic correction of systematic effects in measuring chains | 2019 |
17 | M. Dorozhovets; Y. Marushchak; D. Mazur | Operational Estimating of Arcs Voltage of Arc Steel Furnace | 2019 |