logo
Karta przedmiotu
logo

Cyfrowe przyrządy pomiarowe

Podstawowe informacje o zajęciach

Cykl kształcenia: 2024/2025

Nazwa jednostki prowadzącej studia: Wydział Elektrotechniki i Informatyki

Nazwa kierunku studiów: Elektronika i telekomunikacja

Obszar kształcenia: nauki techniczne

Profil studiów: ogólnoakademicki

Poziom studiów: drugiego stopnia

Forma studiów: stacjonarne

Specjalności na kierunku: Systemy elektroniczne

Tytuł otrzymywany po ukończeniu studiów: magister inżynier

Nazwa jednostki prowadzącej zajęcia: Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

Kod zajęć: 2515

Status zajęć: wybierany dla specjalności Systemy elektroniczne

Układ zajęć w planie studiów: sem: 3 / W30 L15 / 2 ECTS / Z

Język wykładowy: polski

Imię i nazwisko koordynatora: prof. dr hab. inż. Mykhaylo Dorozhovets

Terminy konsultacji koordynatora: poniedziałek, 16:00

Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Celem kształcenia modułu „Cyfrowe przyrządy pomiarowe” jest zdobycie studentami wiedzy i umiejętności wyboru metod pomiarów cyfrowych oraz projektowania autonomicznych cyfrowych przyrządów pomiarowych a także wirtualnych na bazie kart pomiarowych i oprogramowania graficznego

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł prowadzony jest na trzecim semestrze studiów magisterskich na kierunku „Elektronika i telekomunikacja” ET/E-DU-2(03)

Materiały dydaktyczne: Materiały wykładów w formacie PowerPoint, instrukcji do ćwiczeń laboratoryjnych

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć
Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych
1 Stabrowski M. Miernictwo elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa. Warszawa. WPW.. 1994
2 Rudy van der Plasche. Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfro-analogowe. WKiŁ, . 2001
3 Lesiak P. Świsulski D. Komputerowa technika pomiarowa. W przykładach. AW PAK. Warszawa. . 2002.
Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych
1 Świsulski D. Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW. AW PAK. Warszawa. . 2005
2 Strony internetowe i katalogi produkcji firm: NATIONAL INSTRUMENTS, KEITLEY, AGILENT, ADVANTECH, IOT .
Literatura do samodzielnego studiowania
1 Sydenham P.D. Podręcznik metrologii. Warszawa. WKiŁ. . 1990.

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Rejestracja na trzeci semestr studiów magisterskich

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z podstaw elektrotechniki, elektroniki, układów elektronicznych, metrologii, miernictwa elektronicznego, cyfrowego przetwarzania sygnałów, graficznych środowisk programowalnych,

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie wykonywania pomiarów, rejestracji danych w plikach komputerów oraz umiejętności programowania w LabView lub innych środowiskach,

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Umiejętność współpracy w zespole

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK Student, który zaliczył zajęcia Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia Związki z KEK Związki z PRK
01 Zna podstawowe zasady cyfrowych pomiarów oraz podstawowe schematy struktur cyfrowych przyrządów pomiarowych wykład interaktywny, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW
02 Potrafi dobrać metodę oraz zrealizować pomiar parametrów czasowo-częstotliwościowych o zdanych parametrach dokładności wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_W02+
K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW
P7S_WG
03 Potrafi zrealizować cyfrowy pomiar napięcia, prądu, rezystancji na prądzie stałym w warunkach oddziaływań systematycznych oraz zakłóceń okresowych i losowych wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_W02+
K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW
P7S_WG
04 Wykorzystując kartę pomiarową wraz z oprogramowaniem potrafi potrafi zrealizować cyfrowy pomiar parametrów sygnałów przemiennych w zadanym paśmie częstotliwości oraz przy odchyleniu kształtu sygnału od harmonicznego wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_W02+
K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW
P7S_WG
05 Potrafi zrealizować cyfrowy pomiar parametrów LC w wirtualnym mierniku na bazie karty pomiarowej wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_W02+
K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW
P7S_WG
06 Zna podstawowe składowe niepewności podczas cyfrowych pomiarów oraz metrologiczne charakterystyki cyfrowych przyrządów pomiarowych wykład problemowy, laboratorium dyskusyjny Zaliczenie część pisemna, obserwacja wykonawstwa K_U10+
K_K05+
P7S_KK
P7S_UW

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem. TK Treści kształcenia Realizowane na MEK
3 TK01 Podstawowe zasady cyfrowych pomiarów oraz podstawowe składowe struktury cyfrowych przyrządów pomiarowych W1 MEK01
3 TK02 Systematyzacja podstawowych operacji przetwarzania analogowo-cyfrowego. W2 MEK01
3 TK03 Cyfrowe mierniki okresu, częstotliwości i fazy autonomiczne i wirtualne na bazie kart pomiarowych DAQ W3, W4 MEK02
3 TK04 Zwiększenie dokładności cyfrowego pomiaru okresu, częstotliwości i fazy. Tłumienie zakłóceń podczas pomiaru okresu, częstotliwości i fazy W5 MEK02
3 TK05 Cyfrowe woltomierze, amperomierze DC oraz omomierze. Tłumienie zakłóceń w cyfrowych przyrządach pomiarowych. W6, W7 MEK03
3 TK06 Automatyczna korekcja oddziaływań systematycznych podczas pomiarów cyfrowych W8, W9 MEK03
3 TK07 Procesorowe cyfrowe przyrządy pomiarowe W10 MEK03
3 TK08 Cyfrowe mierniki parametrów sygnałów AC autonomiczne i wirtualne na bazie kart pomiarowych DAQ. Cyfrowe uśrednianie wagowe. W11, W12 MEK04
3 TK09 Cyfrowe watomierze sygnałów AC. Cyfrowy pomiar parametrów mocy na bazie kart pomiarowych DAQ W13 MEK04
3 TK10 Cyfrowe mierniki parametrów obwodów elektrycznych autonomiczne i wirtualne na bazie kart pomiarowych DAQ. W14 MEK05
3 TK11 Podstawowe składowe niepewnosci cyfrowych pomiaru, oraz zestawienie podstawowych charakterystyk metrologicznych cyfrowych przyrządów pomiarowych. W15 MEK06

Nakład pracy studenta

Forma zajęć Praca przed zajęciami Udział w zajęciach Praca po zajęciach
Wykład (sem. 3) Przygotowanie do kolokwium: 12.00 godz./sem.
Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Studiowanie zalecanej literatury: 2.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 3) Przygotowanie do laboratorium: 5.00 godz./sem.
Przygotowanie do kolokwium: 5.00 godz./sem.
Godziny kontaktowe: 15.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 3) Udział w konsultacjach: 2.00 godz./sem.
Zaliczenie (sem. 3) Przygotowanie do zaliczenia: 5.00 godz./sem.
Zaliczenie pisemne: 2.00 godz./sem.
Inne: 1.00 godz./sem.

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład Na podstawie zaliczenia pisemnego
Laboratorium Na podstawie pisemnych sprawozdań oraz prezentacji umiejętności praktycznych pisemnego
Ocena końcowa Ocena końcowa= 0,6 oceny z wykładów + 0,4 oceny z ćwiczeń

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
KRK_CPP_Zag_teor.JPG

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
KRK_CPP_II_lab.png

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : tak

Dostępne materiały : Materiały wykładów w formacie Power point, instrukcji do ćwiczeń laboratoryjnych

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1 M. Dorozhovets; A. Szlachta Problems of estimating the uncertainty of water pHmeasurement 2024
2 M. Dorozhovets Uncertainty of the conversion function caused by systematic effects in measurements of input and output quantities 2023
3 M. Dorozhovets; E. Pawłowski; D. Świsulski Frequency measurement research with weight averaging of pulse output signal of voltage-to-frequency converter 2023
4 M. Dorozhovets; P. Kubiszyn Weight Averaging of Pulse Width Modulated Signal 2023
5 M. Dorozhovets Direct Solution of Polynomial Regression of Order Up to 3 2022
6 M. Dorozhovets Type B uncertainty of two-channel measurements 2022
7 M. Dorozhovets; R. Ivakh; Z. Warsza Correction of Temperature Influences in Moisture of Bulk Materials Measurement by Capacitance Method 2022
8 M. Dorozhovets Exact distributions and interval estimation of the parameters of double exponential (Laplace) population for a small number of observations 2021
9 M. Dorozhovets Measuring Amplifier Based on Hamon Resistors and Dynamic Element Matching Technology 2021
10 M. Dorozhovets Wzmacniacz pomiarowy oraz sposób sterowania wzmacniaczem pomiarowym 2021
11 M. Dorozhovets Forward and inverse problems of Type A uncertainty evaluation 2020
12 M. Dorozhovets; O. Ivakhiv; B. Stadnyk Lwowska szkoła metrologii Elektrycznej po drugiej wojnie światowej 2020
13 I. Bubela; M. Dorozhovets; A. Szlachta Investigation of the Instrumental Components in Uncertainty of Extreme Random Observations 2019
14 M. Augustyn; M. Dorozhovets The Simple Virtual Impedance Spectroscopy Based on USB DAQ Card 2019
15 M. Augustyn; M. Dorozhovets Zastosowanie komputerowych kart pomiarowych do realizacji wirtualnego analizatora widma impedancyjnego 2019
16 M. Dorozhovets Effectiveness of automatic correction of systematic effects in measuring chains 2019
17 M. Dorozhovets; Y. Marushchak; D. Mazur Operational Estimating of Arcs Voltage of Arc Steel Furnace 2019