Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Zdobycie podstawowej wiedzy o metodach i narzędziach stosowanych do pomiaru wielkości elektrycznych oraz nabycie umiejętności w zakresie obsługi typowych przyrządów pomiarowych oraz opracowywania i dokumentacji wyników pomiarów.

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł umożliwia poznanie roli informatyki w metrologii m.in. w zakresie budowy komputerowych systemów pomiarowych.

Materiały dydaktyczne: http://wilk.v.prz.edu.pl/

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

1	Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.	Metrologia elektryczna	WNT Warszawa.	2014
2	Piotrowski J.	Podstawy miernictwa	WNT Warszawa.	2002

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

1	Świstulski D.	Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW	Agenda Wydawnicza PAKu, Warszawa.	2005
2	Dziuban E., Dozozhovets M., Kowalczyk A. i in.	Metrologia Elekytryczna i Elektroniczna. Laboratorium cz.1. Materiały pomocnicze.	Oficyna Wyd. Politechniki Rzeszowskiej.	2005
3	Rydzewski J.	Pomiary oscyloskopowe	WNT Warszawa.	1995

Literatura do samodzielnego studiowania

1

Tumański S.

Technika pomiarowa

WNT Warszawa.

2007

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Wpis na semestr 1

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z matematyki i fizyki

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie eksperymentów fizycznych

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Podstawowa umiejętność pracy w zespole

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Wyjaśnia podstawowe pojęcia z zakresu metrologii elektrycznej dotyczące metod pomiarowych, czujników, przetworników oraz przyrządów pomiarowych	wykład,laboratorium (aplikacje w środowisku LabVIEW do ćwiczeń laboratoryjnych)	krótki sprawdzian pisemny na zajęciach laboratoryjnych (wejściówka), zaliczenie część pisemna	K_W02++	P6S_WG
02	Omawia podstawowe zagadnienia dotyczące przetwarzania analogowo-cyfrowego sygnału pomiarowego	wykład, laboratorium (aplikacje w środowisku LabVIEW do ćwiczeń laboratoryjnych)	krótki sprawdzian pisemny na zajęciach laboratoryjnych (wejściówka), zaliczenie część pisemna	K_W02+ K_U01+	P6S_UW P6S_WG
03	Obsługuje współczesne przyrządy pomiarowe wykorzystywane w pomiarach podstawowych wielkości elektrycznych	laboratorium	obserwacja pracy studenta w czasie zajęć laboratoryjnych, zaliczenie część praktyczna	K_U22++	P6S_UW
04	Mierzy podstawowe wielkości elektryczne wykorzystując rzeczywiste i wirtualne przyrządy pomiarowe	wykład, laboratorium (aplikacje w środowisku LabVIEW do ćwiczeń laboratoryjnych)	obserwacja pracy studenta w czasie zajęć laboratoryjnych, zaliczenie część praktyczna	K_U22+++	P6S_UW
05	Opracowuje wyniki pomiarów, szacuje liczbowe miary dokładności pomiarów i przygotowuje dokumentację z realizacji zadania pomiarowego	wykład, laboratorium (aplikacje w środowisku LabVIEW do ćwiczeń laboratoryjnych)	ocena sprawozdania, zaliczenie część pisemna	K_U22+	P6S_UW
06	Planuje pracę zespołu oraz ma świadomość odpowiedzialności za pracę własną oraz zespołu	laboratorium	obserwacja pracy studenta w czasie zajęć laboratoryjnych	K_K04+++	P6S_KO P6S_KR P6S_UO
07	Projektuje proste aplikacje w środowisku LabVIEW wykorzystujące moduł do akwizycji danych	wykład, projekt zespołowy w laboratorium	ocena projektu	K_W02++ K_U01+ K_U22++ K_K04++	P6S_KO P6S_KR P6S_UO P6S_UW P6S_WG

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
2	TK01	Definicja pomiaru. Elementy procesu pomiarowego. Pomiar a informacja. Wzorce, jednostki miar, skale pomiarowe. Uwierzytelnianie, wzorcowanie, sprawdzanie, adjustacja aparatury pomiarowej.	W01, L01	MEK01 MEK04 MEK05
2	TK02	Współczesne cyfrowe przyrządy pomiarowe wykorzystywane w pomiarach wielkości elektrycznych (multimetr, oscyloskop, częstościomierz, generator funkcyjny, zasilacz napięcia stałego). Współpraca przyrządów pomiarowych z komputerem. Metody pomiarowe.	W02, L01 - L08	MEK02 MEK03 MEK04 MEK05 MEK06
2	TK03	Błąd i niepewność pomiaru. Klasyfikacja błędów pomiarowych. Błąd maksymalny dopuszczalny. Obliczanie niepewności wyniku w pomiarach bezpośrednich i pośrednich. Zasady opracowywania serii wyników pomiarowych.	W03, L01, L05 - L07	MEK01 MEK04 MEK05 MEK06
2	TK04	Pomiary: napięcia i natężenia prądu stałego, napięcia zmiennego, częstotliwości i interwału czasu, rezystancji, kąta przesunięcia fazowego. Pomiary podstawowych parametrów układów elektronicznych.	W04, W05 L01 - L08	MEK01 MEK03 MEK04 MEK05 MEK06 MEK07
2	TK05	Sygnały pomiarowe - klasyfikacja, charakterystyka. Parametry sygnału okresowego - definicje, metody oraz algorytmy do ich wyznaczania.	W06, L04	MEK02 MEK03 MEK04 MEK05 MEK07
2	TK06	Akwizycja sygnałów pomiarowych. Operacja próbkowania, tw. Shannona-Kotielnikowa, aliasing. Operacja kwantowania, błąd kwantowania. Przetwornik A/C. Moduły do akwizycji danych. Konfiguracja modułu DAQ. Elementy cyfrowego przetwarzania sygnałów (filtracja zakłóceń, wyznaczanie widma amplitudowego, okienkowanie, przeciek widma).	W06, W07, L04, L09, L10	MEK01 MEK02 MEK03 MEK04 MEK07
2	TK07	Sensory, przetworniki pomiarowe (właściwości statyczne i dynamiczne)	W08, L08	MEK01 MEK02 MEK03 MEK04 MEK07
2	TK08	Systemy pomiarowe (z kartami pomiarowymi, magistralowo-interfejsowe). Oprogramowanie systemów pomiarowych - środowiska programowania graficznego.	W09	MEK01 MEK02 MEK04 MEK07
2	TK09	Wirtualne przyrządy pomiarowe w środowisku LabVIEW. Wprowadzenie do programowania w środowisku LabVIEW. Opracowanie aplikacji w środowisku LabVIEW do akwizycji, wizualizacji i analizy widmowej sygnału pomiarowego	W09, W10, L08, L09, L10	MEK02 MEK04 MEK06 MEK07

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Wykład (sem. 2)	Przygotowanie do kolokwium: 5.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 20.00 godz./sem.	Uzupełnienie/studiowanie notatek: 2.00 godz./sem. Studiowanie zalecanej literatury: 2.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 2)	Przygotowanie do laboratorium: 15.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 20.00 godz./sem.	Dokończenia/wykonanie sprawozdania: 2.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 2)		Udział w konsultacjach: 2.00 godz./sem.
Zaliczenie (sem. 2)	Przygotowanie do zaliczenia: 10.00 godz./sem.	Zaliczenie pisemne: 2.00 godz./sem.

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład	sprawdzian pisemny
Laboratorium	Wykonanie i zaliczenie wszystkich zajęć laboratoryjnych w czasie semestru. Ocena sprawozdań z wybranych ćwiczeń, która uwzględnia także aktywność studenta.
Ocena końcowa	Ocena końcowa to średnia arytmetyczna ocen z wykładu i laboratorium.

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
zal_pisemne.JPG

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
zal_Labor.JPG

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : nie

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: nie