Cel kształcenia i wykaz literatury

Główny cel kształcenia: Głównym celem kształcenia modułu Miernictwo elektroniczne jest przedstawienie studentom podstawowej wiedzy o metodach i narzędziach pomiaru wielkości elektrycznych o niskim poziomie w warunkach oddziaływania zakłóceń oraz zdobycie podstawowych umiejętności w wykorzystaniu przyrządów pomiarowych do wykonania takich pomiarów i oszacowania niepewności ich wyników

Ogólne informacje o zajęciach: Moduł prowadzony jest na czwartym semestrze studiów inżynierskich na kierunku „Elektronika i telekomunikacja” ET-DI-2(04)

Materiały dydaktyczne: materiały wykładów PWP

Inne: Zadania teoretyczne i praktyczne do zaliczenia

Wykaz literatury, wymaganej do zaliczenia zajęć

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

1	Parchański J.	Miernictwo elektryczne i elektroniczne	WSIP.	1998
2	Keithley	Low level measurement. Precision DC Current, Voltage and Resistance Measurement	Keithley.	2005
3	Lisowski M.	Pomiary rezystywności i prtzenikalności elektrycznej dielektryków stałych	OWPW.	2004

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

1	Dziuban E., Dorozhovets M, Kowalczyk A., oraz in.	Metrologia elektryczna i elektroniczna. Laboratorium Cz.I.	OWPRz.	2005
2	Brydak K., Hanus R., Kowalczyk A., oraz in.	Metrologia elektryczna i elektroniczna. Laboratorium Cz.II.	OWPRz.	2006

Literatura do samodzielnego studiowania

1

Sydenham P.D.

Podręcznik metrologii.

WKiŁ.

1990

Wymagania wstępne w kategorii wiedzy/umiejętności/kompetencji społecznych

Wymagania formalne: Rejestracja na czwarty semestr studiów inżynierskich

Wymagania wstępne w kategorii Wiedzy: Podstawowa wiedza z fizyki, podstaw elektrotechniki, metrologii, układów elektronicznych

Wymagania wstępne w kategorii Umiejętności: Podstawowe umiejętności w zakresie wykonywania pomiarów oraz analizy obwodów elektrycznych i elektronicznych

Wymagania wstępne w kategorii Kompetencji społecznych: Umiejętność współpracy w zespole

Efekty kształcenia dla zajęć

MEK	Student, który zaliczył zajęcia	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Metody weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia	Związki z KEK	Związki z PRK
01	Zna problemy i ograniczenia występujące podczas pomiaru małych napięć i prądów oraz małych i dużych rezystancji oraz innych parametrów w obwodach elektronicznych	wykład problemowy	kolokwium, zaliczenie cz. pisemna	K_W03+ K_W13+ K_U11+	P6S_UW P6S_WG
02	Wybiera metodę oraz aparaturę do pomiaru małych napięć i prądów oraz małych i dużych rezystancji.	wykład problemowy, laboratorium	kolokwium, obserwacja wykonawstwa	K_W11+ K_W13+ K_U05+ K_U11+	P6S_UU P6S_UW P6S_WG
03	Przeprowadzi korekcje odchyleń wskazań mierników spowodowanych ich rezystancją wejściową	wykład problemowy, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, kolokwium, sprawdzian pisemny	K_W13+ K_U01+	P6S_UU P6S_WG
04	Zna podstawowe metody tłumienia zakłóceń podczas pomiarów	wykład problemowy, laboratorium	kolokwium, zaliczenie cz. pisemna, obserwacja wykonawstwa	K_W13+ K_U14+ K_K04+	P6S_KR P6S_UK P6S_UO P6S_UW P6S_WG

Uwaga: W zależności od sytuacji epidemicznej, jeżeli nie będzie możliwości weryfikacji osiągniętych efektów uczenia się określonych w programie studiów w sposób stacjonarny w szczególności zaliczenia i egzaminy kończące określone zajęcia będą mogły się odbywać przy użyciu środków komunikacji elektronicznej (w sposób zdalny).

Treści kształcenia dla zajęć

Sem.	TK	Treści kształcenia	Realizowane na	MEK
3	TK01	Problemy i ograniczenia pomiaru małych napięć i prądów w obwodach elektronicznych	W1, W2, L7, L8, L9	MEK01 MEK02
3	TK02	Problemy i metody pomiaru małych i dużych rezystancji	W3,W4, L2, L3, L6, L10	MEK01 MEK02
3	TK03	Korekcja systematycznego wpływu rezystancji wejściowej mierników na wyniki pomiarów w obwodach elektronicznych o porównywalnej wartości rezystancji	W5, L5, L6, L7, L8	MEK03
3	TK04	Zakłócenia oraz tłumienie zakłóceń podczas pomiaru sygnałów. Uśrednianie wagowe	W6, L1, L11, L12	MEK04
3	TK05	Cyfrowy pomiar parametrów sygnałów AC. Wybrane zagadnienia	W7, L1,L4, L11, L12	MEK04
3	TK06	Pomiary ładunku oraz parametrów LC obiektów elektronicznych	W8, L6, L10, L11	MEK01

Nakład pracy studenta

Forma zajęć	Praca przed zajęciami	Udział w zajęciach	Praca po zajęciach
Wykład (sem. 3)	Przygotowanie do kolokwium: 3.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 15.00 godz./sem.
Laboratorium (sem. 3)	Przygotowanie do laboratorium: 7.00 godz./sem.	Godziny kontaktowe: 30.00 godz./sem.
Konsultacje (sem. 3)
Zaliczenie (sem. 3)	Przygotowanie do zaliczenia: 2.00 godz./sem.	Zaliczenie pisemne: 2.00 godz./sem. Zaliczenie ustne: 1.00 godz./sem.

Sposób wystawiania ocen składowych zajęć i oceny końcowej

Forma zajęć	Sposób wystawiania oceny podsumowującej
Wykład
Laboratorium
Ocena końcowa	Ocena końcowa= 0,5 oceny z wykładów + 0,5 oceny z ćwiczeń

Przykładowe zadania

Wymagane podczas egzaminu/zaliczenia
ME_przykl_zadani_kolokw_zalicz.pdf
ME_zagadn_kolokw_zalicz.pdf

Realizowane podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/projektowych
(-)

Inne
(-)

Czy podczas egzaminu/zaliczenia student ma możliwość korzystania z materiałów pomocniczych : tak

Dostępne materiały : materiały wykładów w PWR, instrukcji do ćwiczeń laboratoryjnych

Treści zajęć powiazane są z prowadzonymi badaniami naukowymi: tak

1	M. Dorozhovets; A. Szlachta	Problems of estimating the uncertainty of water pHmeasurement	2024
2	M. Dorozhovets	Uncertainty of the conversion function caused by systematic effects in measurements of input and output quantities	2023
3	M. Dorozhovets; E. Pawłowski; D. Świsulski	Frequency measurement research with weight averaging of pulse output signal of voltage-to-frequency converter	2023
4	M. Dorozhovets; P. Kubiszyn	Weight Averaging of Pulse Width Modulated Signal	2023
5	M. Dorozhovets	Direct Solution of Polynomial Regression of Order Up to 3	2022
6	M. Dorozhovets	Type B uncertainty of two-channel measurements	2022
7	M. Dorozhovets; R. Ivakh; Z. Warsza	Correction of Temperature Influences in Moisture of Bulk Materials Measurement by Capacitance Method	2022
8	M. Dorozhovets	Exact distributions and interval estimation of the parameters of double exponential (Laplace) population for a small number of observations	2021
9	M. Dorozhovets	Measuring Amplifier Based on Hamon Resistors and Dynamic Element Matching Technology	2021
10	M. Dorozhovets	Wzmacniacz pomiarowy oraz sposób sterowania wzmacniaczem pomiarowym	2021
11	M. Dorozhovets	Forward and inverse problems of Type A uncertainty evaluation	2020
12	M. Dorozhovets; O. Ivakhiv; B. Stadnyk	Lwowska szkoła metrologii Elektrycznej po drugiej wojnie światowej	2020
13	I. Bubela; M. Dorozhovets; A. Szlachta	Investigation of the Instrumental Components in Uncertainty of Extreme Random Observations	2019
14	M. Augustyn; M. Dorozhovets	The Simple Virtual Impedance Spectroscopy Based on USB DAQ Card	2019
15	M. Augustyn; M. Dorozhovets	Zastosowanie komputerowych kart pomiarowych do realizacji wirtualnego analizatora widma impedancyjnego	2019
16	M. Dorozhovets	Effectiveness of automatic correction of systematic effects in measuring chains	2019
17	M. Dorozhovets; Y. Marushchak; D. Mazur	Operational Estimating of Arcs Voltage of Arc Steel Furnace	2019